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振荡电路评估(二):振荡裕度(负阻抗)的评估方法

2015/4/27 16:00:15      点击:
为了获得稳定的振荡,通常情况下石英晶体单元与振荡电路的匹配十分重要。若电路结构与晶体单元的匹配中存在问题,就会产生频率不够稳定、停止起振或振荡不稳定等问题。石英晶体单元与微机一起使用时需要评估振荡电路。确认该石英晶体单元与振荡电路的匹配之际,至少要对振荡频率(频率匹配)、振荡裕度(负阻抗)和激励功率等三项进行评估。我们在上篇中已经说明了有关频率匹配的内容,这次将一世强代理的EPSON 晶体振荡器为例解说振荡裕度(负阻抗)的评估方法。
 
在石英晶体单元的 HOT 端子插入阻抗后检测是否起振(测试负阻抗 RN),是评估振荡电路的负阻抗特性与振荡裕度的简单方法。振荡电路的能力可以通过改变插入的阻抗值(损失的大小)进行测试。
图 1 是测试负阻抗的电路图。负阻抗的绝对值等于所插入的阻抗值 r 和石英晶体单元连接负载时的等效阻抗(Re)之和。算式(1)